Microscopio metallografico verticale computerizzato HST301-EW
Il microscopio metallografico verticale computerizzato HST301-EW offre ai clienti analisi metallografiche convenienti e soluzioni di ispezione industriale con un eccellente sistema di imaging e comode
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Il microscopio metallografico verticale computerizzato HST301-EW offre ai clienti soluzioni di analisi metallografiche e di ispezione industriale convenienti con un eccellente sistema di imaging e un'esperienza operativa confortevole. La struttura adotta il tubo di osservazione con l'angolazione migliore e confortevole del lettino, che può alleviare la tensione e l'affaticamento degli utenti nello stato di lavoro a lungo termine e garantire il miglior stato di osservazione. La scala sul tubo di osservazione consente agli utenti di regolare da soli la distanza ottimale della pupilla.
Il microscopio metallografico verticale computerizzato HST301-EW integra un host microscopio stabile, un dispositivo fotocamera ad alta definizione e un vero software di analisi delle immagini metallografiche, in grado di fornire agli utenti una gamma completa di efficienti soluzioni di rilevamento e analisi della struttura metallografica.
Questo microscopio è ampiamente utilizzato nell'analisi della struttura metallografica dei materiali metallici (tra cui perlite, tasso di sferoidizzazione, dimensione dei grani, morfologia della grafite, ecc.), analisi metallografiche dell'insegnamento e della ricerca scientifica, misurazioni di ingegneria di precisione e altri campi. È uno strumento indispensabile e importante nella scienza dei materiali, nell'ingegneria metallurgica, nella produzione di macchinari e in altri settori.
Funzione di memoria della luminosità
La funzione di memoria della luminosità può memorizzare la luminosità dell'illuminazione quando si utilizza ciascun obiettivo e regolare automaticamente l'intensità della luce quando si cambiano obiettivi diversi.
Tutte le serie di obiettivi in campo chiaro semi-apocromatici
Gli obiettivi utilizzano lenti ad alta trasmittanza e una tecnologia di rivestimento avanzata per ripristinare realmente il colore naturale del campione. Il design semi-apocromatico offre eccellenti prestazioni di correzione dell'aberrazione cromatica, che migliorano il contrasto e la chiarezza dell'immagine osservata.
Fotocamera con chip Sony ad alta definizione
La fotocamera è una fotocamera CMOS con attacco C con sensore CMOS Sony, una fotocamera per microscopio metallografico ideale per imaging microscopico in campo chiaro, campo scuro, polarizzato, in condizioni di scarsa illuminazione e a fluorescenza di alta qualità, adatto per applicazioni di scienza dei materiali.
Cucitura di immagini
Il software di misurazione delle immagini può essere realizzato spostando il palco. Il processo di unione manuale delle immagini può realizzare la funzione di unione delle immagini con diversi ingrandimenti per ottenere un'immagine chiara con un ampio campo visivo.
Fusione della profondità di campo in tempo reale
La funzione di sintesi della profondità di campo nel software di misurazione delle immagini consente di ruotare il microscopio per mettere a punto diversi punti di profondità di campo mentre la fotocamera espande immediatamente la profondità di campo dell'immagine microscopica in tempo reale. I dettagli dell'intera inquadratura sono chiari a colpo d'occhio e non vedrai mai più immagini sfocate!
Parametri tecnici
Nome | Specifica |
Sistema ottico | Sistema ottico con correzione dell'aberrazione cromatica infinita |
Tubo di osservazione | Inclinazione di 30°, tubo di osservazione a tre vie con cerniera all'infinito, regolazione della distanza della pupilla: 50 mm~75 mm, regolazione diottrica su un solo lato: -2/+8 diottrie, rapporto di suddivisione a due velocità R:T=100:0 o 50:50 |
Oculare | Oculare a campo piatto con punto di osservazione elevato e ampio campo visivo SWH10X/23 mm (regolazione diottrica) |
Obiettivo | Obiettivo metallografico campo chiaro semi-composto a campo piatto 5X/NA0.15 WD15 |
Obiettivo metallografico a campo chiaro semi-composto a campo piatto 10X/NA0.30 WD8.4 | |
Obiettivo metallografico a campo chiaro semi-composto a campo piatto 20X/NA0.45 WD3.0 | |
Obiettivo metallografico a campo chiaro semi-composto a campo piatto 50X/NA0.75 WD3.0 | |
Obiettivo metallografico campo chiaro semi-composto a campo piatto 100X/NA0.90 WD1.0(facoltativo) | |
Convertitore di lenti dell'obiettivo | Convertitore di campo chiaro a 5 fori con posizionamento interno ad alta precisione, funzione di memoria della luminosità. |
Meccanismo di messa a fuoco | Meccanismo di messa a fuoco coassiale grossolana e fine in posizione bassa, corsa di regolazione grossolana 30 mm,precisione di regolazione fine 0,001 mm. Con dispositivo di regolazione della tensione per evitare scivolamenti e dispositivo di limite superiore casuale. Con meccanismo di regolazione della posizione della piattaforma su e giù, altezza massima del campione 40 mm. |
Palcoscenico | Piattaforma mobile meccanica a doppio strato, posizione bassa X, regolazione coassiale direzione Y; area piattaforma 240X175mm, superficie di lavoro: 135X125mm, campo di movimento: 75mmX50mm, può essere dotato di tavolino metallico per la riflessione. |
Sistema di illuminazione riflessa | Ampio voltaggio adattivo 100 V-240 V_AC50/60 Hz, stanza lampada riflettente, singolo LED da 10 W ad alta potenza, colore caldo, illuminazione Kohler, con diaframma di campo e diaframma di apertura, regolabile al centro, |
Componente polarizzante | Analizzatore, polarizzatore. |
Altri accessori | Accessori fotografici: attacco C 0,5X, messa a fuoco regolabile; |
Fotocamera FEG da 12 megapixel con chip Sony, sistema di imaging del computer FCL-RS | |
Software di analisi delle immagini metallografiche FMIA2025, micrometro ad alta precisione (valore griglia 0,01 mm) | |
Calcolatore | Computer aziendale di marca(facoltativo) |
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